首頁 >
資料下載 > SMR170 磁共振性能檢測(cè)模體——技術(shù)規(guī)格書
SMR170 磁共振性能檢測(cè)模體——技術(shù)規(guī)格書 |
點(diǎn)擊次數(shù):132 發(fā)布時(shí)間:2024/8/3 |
提 供 商: |
東莞市高升電子精密科技有限公司 |
資料大?。?/td>
| JPG |
圖片類型: |
JPG |
下載次數(shù): |
0 次 |
資料類型: |
PDF |
瀏覽次數(shù): |
132 次 |
相關(guān)產(chǎn)品: |
|
|
詳細(xì)介紹: |
文件下載  圖片下載   |
SMR170 磁共振性能檢測(cè)模體主要用于核磁共振研發(fā)測(cè)試,性能質(zhì)量評(píng)估,空間分辨力及成像線性度測(cè)試和低對(duì)比度靈敏度測(cè)試。測(cè)磁場(chǎng)均勻性、信躁比、T1,T2值、空間分辨率(高分辨率)、密度分辨率(低對(duì)比度)、幾何線性等。SMR170 磁共振性能檢測(cè)模體能夠符合YY/T0482-2022、JJF(京)30-2022等標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)要求,進(jìn)行對(duì)MRI設(shè)備性能進(jìn)行檢測(cè)。模體由一個(gè)10cm的立方體測(cè)試插件和丙烯酸材料的圓柱體組成;圓柱體的外徑為20 厘米,內(nèi)徑為 19 厘米。如圖A.1所示。 |
|
|
|